プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.92 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.45→29.39 Å / Num. obs: 47830 / % possible obs: 99.9 % / 冗長度: 13 % / Biso Wilson estimate: 19.304 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.084 / Rsym value: 0.024 / Net I/σ(I): 15
反射 シェル
解像度: 1.45→1.53 Å / 冗長度: 13.2 % / Rmerge(I) obs: 1.005 / Mean I/σ(I) obs: 2.6 / % possible all: 99.8
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0151
精密化
XDS
データ削減
SCALA
データスケーリング
SHELXDE
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.45→29.39 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.969 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.96 / SU B: 3.002 / SU ML: 0.051 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.077 / ESU R Free: 0.069 / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS