プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9792 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 3.1→50 Å / Num. obs: 11548 / % possible obs: 99.6 % / 冗長度: 15.2 % / Net I/σ(I): 61.93
反射 シェル
解像度: 3.1→3.15 Å / 冗長度: 16.8 % / Rmerge(I) obs: 0.557 / Mean I/σ(I) obs: 8.39 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
1.9_1692
精密化
HKL-2000
7.04
データ削減
HKL-2000
7.04
データスケーリング
PHASER
2.5.6
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 開始モデル: the Se-Met derivative of this complex 解像度: 3.1→39.75 Å / SU ML: 0.46 / 交差検証法: FREE R-VALUE / σ(F): 1.33 / 位相誤差: 34.69 / 立体化学のターゲット値: ML
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.3017
537
4.76 %
random selection
Rwork
0.2594
-
-
-
obs
0.2615
11286
97.7 %
-
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL