プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.1→45.67 Å / Num. obs: 45134 / % possible obs: 99.6 % / 冗長度: 10.33 % / Net I/σ(I): 13.5
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0103
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
MOLREP
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.1→9.999 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.925 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.911 / SU B: 5.237 / SU ML: 0.135 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.2 / ESU R Free: 0.17 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.25949
2241
5 %
RANDOM
Rwork
0.24252
-
-
-
obs
0.24337
42187
98.75 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK