ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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HKL-2000 | | データ収集 | HKL-2000 | | データスケーリング | PHASER | | 位相決定 | PHENIX | 1.8.1_1168精密化 | PDB_EXTRACT | 3.15 | データ抽出 | HKL-2000 | | データ削減 | PHASER | | 位相決定 | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: 3BT5 解像度: 1.702→26.981 Å / FOM work R set: 0.8222 / SU ML: 0.14 / 交差検証法: FREE R-VALUE / σ(F): 1.34 / 位相誤差: 23.61 / 立体化学のターゲット値: ML
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.2185 | 615 | 4.87 % |
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Rwork | 0.1815 | 12011 | - |
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obs | 0.1833 | 12626 | 71.25 % |
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溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL |
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原子変位パラメータ | Biso max: 70.07 Å2 / Biso mean: 19.69 Å2 / Biso min: 5.48 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: final / 解像度: 1.702→26.981 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1124 | 0 | 0 | 197 | 1321 |
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Biso mean | - | - | - | 35.54 | - |
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残基数 | - | - | - | - | 135 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | f_bond_d0.007 | 1185 | X-RAY DIFFRACTION | f_angle_d1.006 | 1603 | X-RAY DIFFRACTION | f_chiral_restr0.068 | 164 | X-RAY DIFFRACTION | f_plane_restr0.004 | 210 | X-RAY DIFFRACTION | f_dihedral_angle_d14.202 | 463 | | | | | |
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LS精密化 シェル | Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used: 4 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | Num. reflection all | % reflection obs (%) |
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1.7021-1.8734 | 0.2159 | 97 | 0.1768 | 2014 | 2111 | 48 | 1.8734-2.1443 | 0.222 | 132 | 0.1769 | 2488 | 2620 | 60 | 2.1443-2.7012 | 0.2316 | 176 | 0.1863 | 3217 | 3393 | 77 | 2.7012-26.9847 | 0.2118 | 210 | 0.1811 | 4292 | 4502 | 98 |
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精密化 TLS | 手法: refined / Origin x: -13.4029 Å / Origin y: 5.2518 Å / Origin z: -6.8055 Å
| 11 | 12 | 13 | 21 | 22 | 23 | 31 | 32 | 33 |
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T | 0.0913 Å2 | 0.0031 Å2 | 0.004 Å2 | - | 0.095 Å2 | -0.0082 Å2 | - | - | 0.0225 Å2 |
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L | 1.6457 °2 | -0.4701 °2 | 0.0509 °2 | - | 1.675 °2 | 0.0928 °2 | - | - | 0.1553 °2 |
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S | 0.0343 Å ° | 0.0076 Å ° | 0.0346 Å ° | -0.095 Å ° | -0.0116 Å ° | -0.1457 Å ° | -0.0302 Å ° | 0.0161 Å ° | -0.0257 Å ° |
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精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Selection details | Auth asym-ID | Auth seq-ID |
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1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | allA44 - 195 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | allA201 - 397 | | | | |
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