プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97946 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.6→50 Å / Num. obs: 141836 / % possible obs: 98.3 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 2.8 % / Rmerge(I) obs: 0.086 / Net I/σ(I): 23.6
反射 シェル
解像度: 1.6→1.63 Å / 冗長度: 2.6 % / Rmerge(I) obs: 0.419 / Mean I/σ(I) obs: 2.8 / % possible all: 98
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0069
精密化
DENZO
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
PHENIX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.6→20 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.974 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.964 / SU B: 1.482 / SU ML: 0.051 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.073 / ESU R Free: 0.075 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.184
7092
5 %
RANDOM
Rwork
0.155
-
-
-
obs
0.156
133918
99.42 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK