プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.3 Å / 相対比: 1
Reflection twin
Crystal-ID
ID
Operator
Domain-ID
Fraction
1
1
H, K, L
1
0.722
1
1
K, H, -L
2
0.278
反射
解像度: 2.46→10.99 Å / Num. obs: 55667 / % possible obs: 99.8 % / 冗長度: 5.77 % / Net I/σ(I): 25.14
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0073
精密化
PHENIX
精密化
PHENIX
モデル構築
Coot
モデル構築
PHENIX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.46→10.99 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.957 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.946 / SU B: 8.868 / SU ML: 0.205 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.092 / ESU R Free: 0.044 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.18335
1461
5.3 %
RANDOM
Rwork
0.1673
-
-
-
obs
0.16814
26299
99.84 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK