ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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PHENIX | 1.9_1692精密化 | XDS | | データ削減 | Aimless | | データスケーリング | PHASER | | 位相決定 | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: Unpublished model 解像度: 1.9652→34.485 Å / SU ML: 0.27 / 交差検証法: FREE R-VALUE / σ(F): 1.31 / 位相誤差: 24.8 / 立体化学のターゲット値: ML
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.2107 | 877 | 9.85 % |
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Rwork | 0.1684 | - | - |
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obs | 0.1727 | 8900 | 98.3 % |
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溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.9652→34.485 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 0 | 486 | 32 | 67 | 585 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | f_bond_d0.01 | 622 | X-RAY DIFFRACTION | f_angle_d1.829 | 955 | X-RAY DIFFRACTION | f_dihedral_angle_d35.596 | 276 | X-RAY DIFFRACTION | f_chiral_restr0.056 | 94 | X-RAY DIFFRACTION | f_plane_restr0.009 | 30 | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | Refine-ID | % reflection obs (%) |
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1.9652-2.0883 | 0.329 | 160 | 0.2267 | 1280 | X-RAY DIFFRACTION | 93 | 2.0883-2.2495 | 0.3417 | 136 | 0.2142 | 1355 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.2495-2.4758 | 0.3024 | 146 | 0.2145 | 1361 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.4758-2.8339 | 0.248 | 133 | 0.1989 | 1371 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.8339-3.5699 | 0.1853 | 150 | 0.1573 | 1347 | X-RAY DIFFRACTION | 99 | 3.5699-34.49 | 0.1692 | 152 | 0.1416 | 1309 | X-RAY DIFFRACTION | 97 |
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