由来: 回転陽極 / タイプ: BRUKER AXS MICROSTAR / 波長: 1.5417 Å
検出器
タイプ: MAR scanner 345 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2012年4月23日
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5417 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.3→30 Å / Num. obs: 16749 / % possible obs: 99 % / 冗長度: 3.7 % / Net I/σ(I): 13.2
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.5.0109
精密化
XDS
データ削減
XDS
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
解像度: 2.45→29.82 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.872 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.848 / SU B: 10.719 / SU ML: 0.249 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.595 / ESU R Free: 0.33 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2982
1384
9.9 %
RANDOM
Rwork
0.26364
-
-
-
obs
0.26708
12539
99.65 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK