由来: 回転陽極 / タイプ: BRUKER AXS MICROSTAR / 波長: 1.5418 Å
検出器
タイプ: MAR scanner 345 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2012年7月23日
放射
モノクロメーター: Mirrors / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
Reflection twin
Crystal-ID
ID
Operator
Domain-ID
Fraction
1
1
H, K, L
1
0.519
1
1
-H, K, -L
2
0.481
反射
解像度: 1.925→78.7 Å / Num. obs: 15434 / % possible obs: 90.1 % / 冗長度: 3.8 % / Net I/σ(I): 4
-
解析
ソフトウェア
名称: REFMAC / バージョン: 5.8.0049 / 分類: 精密化
精密化
解像度: 1.925→35.2 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.951 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.896 / SU B: 3.59 / SU ML: 0.106 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.048 / ESU R Free: 0.039 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.22908
771
5 %
RANDOM
Rwork
0.17189
-
-
-
obs
0.17465
14615
87.87 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK