モノクロメーター: GRAPHITE / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9793 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.5→50 Å / Num. obs: 73250 / % possible obs: 99.3 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 7.5 % / Rmerge(I) obs: 0.122 / Net I/σ(I): 12.95
反射 シェル
解像度: 1.5→1.53 Å / 冗長度: 7.4 % / Rmerge(I) obs: 0.49 / Mean I/σ(I) obs: 4.5 / % possible all: 98.4
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
SHELX
モデル構築
ARP/wARP
モデル構築
REFMAC
5.8.0073
精密化
HKL-3000
データ削減
HKL-3000
データスケーリング
SHELX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.5→25 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.976 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.962 / SU B: 2.213 / SU ML: 0.038 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.065 / ESU R Free: 0.06 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.16824
2178
3 %
RANDOM
Rwork
0.13204
-
-
-
obs
0.13314
69767
98.37 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK