ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB XSCALEデータスケーリング Show PHASER2.5.3位相決定 Show PHENIX1.8.2_1309精密化 Show PDB_EXTRACT3.14 データ抽出 Show XDSデータスケーリング XDSデータ削減
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 2.18→35.527 Å / FOM work R set : 0.8306 / SU ML : 0.23 / σ(F) : 1.36 / 位相誤差 : 24.12 / 立体化学のターゲット値 : MLRfactor 反射数 %反射 Rfree 0.2282 1760 4.98 % Rwork 0.196 - - obs 0.1976 35321 92.89 %
溶媒の処理 減衰半径 : 0.9 Å / VDWプローブ半径 : 1.11 Å / 溶媒モデル : FLAT BULK SOLVENT MODEL原子変位パラメータ Biso max : 76.4 Å2 / Biso mean : 30.17 Å2 / Biso min : 12.02 Å2 精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.18→35.527 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 4720 0 0 404 5124
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal 数 X-RAY DIFFRACTION f_bond_d0.006 4856 X-RAY DIFFRACTION f_angle_d0.992 6645 X-RAY DIFFRACTION f_chiral_restr0.041 726 X-RAY DIFFRACTION f_plane_restr0.006 883 X-RAY DIFFRACTION f_dihedral_angle_d13.064 1719
Refine LS restraints NCS Ens-ID Dom-ID Auth asym-ID 数 Refine-ID Rms タイプ 1 1 A2845 X-RAY DIFFRACTION 5.834 TORSIONAL1 2 B2845 X-RAY DIFFRACTION 5.834 TORSIONAL
LS精密化 シェル Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used : 13
解像度 (Å)Rfactor Rfree Num. reflection Rfree Rfactor Rwork Num. reflection Rwork Num. reflection all % reflection obs (%)2.18-2.2389 0.2882 141 0.2577 2679 2820 96 2.2389-2.3048 0.256 139 0.2364 2652 2791 96 2.3048-2.3792 0.3087 136 0.2435 2575 2711 94 2.3792-2.4642 0.2725 138 0.2363 2625 2763 95 2.4642-2.5628 0.3188 138 0.2381 2630 2768 95 2.5628-2.6794 0.2598 138 0.2284 2651 2789 95 2.6794-2.8207 0.2901 136 0.2214 2605 2741 94 2.8207-2.9973 0.2639 137 0.2102 2610 2747 93 2.9973-3.2286 0.2358 135 0.1989 2561 2696 93 3.2286-3.5532 0.1945 133 0.1754 2547 2680 92 3.5532-4.0667 0.1897 134 0.1662 2533 2667 90 4.0667-5.1212 0.1767 130 0.1429 2470 2600 89 5.1212-35.5318 0.1519 125 0.1662 2423 2548 85
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 6) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.4843 -0.0836 -0.1061 0.7627 -0.1139 0.6836 -0.0411 0.044 -0.0185 0.055 0.0156 -0.042 0.0456 -0.0029 0.0264 0.1195 -0.0042 0.0045 0.139 0.0136 0.204 32.8957 -11.8919 129.3627 2 1.3515 0.2172 -0.1915 1.0581 -0.1543 0.717 -0.0594 -0.1501 -0.2533 0.2185 0.0276 -0.1749 0.0552 0.0623 0.0285 0.2252 0.0347 -0.0229 0.2066 0.0284 0.2267 32.9959 -22.962 144.9696 3 0.6601 -0.055 -0.0092 0.7852 -0.2515 0.9923 -0.0134 0.1204 0.0073 -0.0653 -0.0071 -0.1407 -0.0868 0.0443 0.0014 0.1432 -0.0218 -0.0048 0.1639 0.0104 0.2189 35.8089 -2.9318 123.5611 4 0.5687 -0.1329 0.1505 0.9687 0.2795 0.6366 -0.0583 0.0372 0.0229 0.0475 0.0322 0.1526 -0.022 -0.0112 0.0187 0.1432 -0.0074 -0.0063 0.1735 -0.002 0.2454 11.3459 -12.6894 129.3477 5 1.2806 -0.0764 0.1365 1.0339 0.0769 0.4811 -0.0786 -0.1739 0.0724 0.2427 0.0329 0.1588 -0.0124 -0.0379 0.0478 0.2222 0.0247 0.0265 0.2292 -0.0258 0.2212 11.2428 -1.552 144.9767 6 0.8171 -0.108 -0.0623 1.0773 0.3838 0.7783 0.0012 0.1024 -0.2243 -0.1299 -0.0467 0.1901 0.0733 -0.0425 0.031 0.1385 -0.0001 -0.0105 0.1568 -0.0224 0.2652 8.4023 -21.6636 123.521
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Selection details 1 X-RAY DIFFRACTION 1 CHAIN A AND (RESID 225:290 )2 X-RAY DIFFRACTION 2 CHAIN A AND (RESID 291:453 )3 X-RAY DIFFRACTION 3 CHAIN A AND (RESID 454:565 )4 X-RAY DIFFRACTION 4 CHAIN B AND (RESID 225:290 )5 X-RAY DIFFRACTION 5 CHAIN B AND (RESID 291:453 )6 X-RAY DIFFRACTION 6 CHAIN B AND (RESID 454:565 )