ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 PHASER位相決定 REFMAC5.8.0049精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 4MKG解像度 : 1.37→49.32 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.971 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.96 / SU B : 2.845 / SU ML : 0.053 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.061 / ESU R Free : 0.068 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.22029 2265 5.1 % RANDOM Rwork 0.17915 - - - obs 0.18128 41955 96.73 % - all - 43373 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 26.268 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.44 Å2 -0 Å2 -1.28 Å2 2- - -0.46 Å2 -0 Å2 3- - - 0.24 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.37→49.32 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1706 0 59 232 1997
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 20) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.026 0.019 1791 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 1727 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg2.51 2.035 2421 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg1.357 3 3986 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.54 5 216 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg33.683 24.268 82 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg12.297 15 335 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg17.163 15 16 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.151 0.2 266 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.015 0.021 1969 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.008 0.02 377 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.499 1.394 867 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other1.496 1.391 866 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.88 2.096 1082 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_other1.882 2.098 1083 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it3.07 1.719 924 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_other3.068 1.718 925 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_other4.615 2.421 1340 X-RAY DIFFRACTION r_long_range_B_refined8.48 13.597 2244 X-RAY DIFFRACTION r_long_range_B_other8.372 12.373 2139
LS精密化 シェル 解像度 : 1.371→1.407 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.353 152 - Rwork 0.318 2959 - obs - - 92.31 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 4) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 2.8741 0 -0.012 2.5501 0.2082 2.7577 -0.0182 0.2846 0.0287 -0.2994 0.0971 -0.0391 -0.0579 0.17 -0.0788 0.0398 -0.0249 0.0048 0.0776 -0.0121 0.0122 21.8059 -1.4839 -3.7486 2 4.2256 -0.3053 1.4702 0.7974 -0.141 1.9854 -0.018 -0.0356 -0.0549 -0.0044 0.034 0.062 -0.1705 -0.014 -0.016 0.0522 0.0421 -0.0164 0.0604 -0.035 0.0668 7.6959 -15.8477 -6.3669 3 1.6299 -0.0506 0.2372 1.3028 0.2538 1.5891 0.0979 -0.101 -0.1013 0.1719 0.0095 0.054 0.0837 0.0198 -0.1075 0.0316 -0.0088 -0.0054 0.0283 0.0046 0.0409 18.2193 -6.9182 14.3104 4 3.2239 3.4441 -1.8329 4.3381 -1.5478 1.829 -0.0821 0.1082 -0.1499 -0.1786 0.0548 -0.027 0.2763 0.0369 0.0274 0.2055 0.0275 -0.049 0.1576 -0.0434 0.2045 16.918 -11.3787 5.0815
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 B31 - 60 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B127 - 164 3 X-RAY DIFFRACTION 3 B1 - 30 4 X-RAY DIFFRACTION 3 B61 - 126 5 X-RAY DIFFRACTION 3 B165 - 217 6 X-RAY DIFFRACTION 4 B302