モノクロメーター: Si (111) / プロトコル: MAD / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97936 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.05→50 Å / Num. obs: 26899 / % possible obs: 99 %
反射 シェル
解像度: 2.05→2.09 Å / 冗長度: 9.1 % / % possible all: 99
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-3000
データ収集
SHELXS
位相決定
REFMAC
5.8.0049
精密化
HKL-3000
データ削減
HKL-3000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.05→50 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.971 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.953 / SU B: 7.298 / SU ML: 0.096 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.123 / ESU R Free: 0.119 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.19652
1341
5 %
RANDOM
Rwork
0.16664
-
-
-
obs
0.16813
25312
99 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK