プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.2823 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.42→50 Å / Num. obs: 27859 / % possible obs: 99.9 % / 冗長度: 7.1 % / Rmerge(I) obs: 0.052 / Χ2: 1.73 / Net I/σ(I): 50.83
反射 シェル
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Rmerge(I) obs
Num. unique all
Χ2
Diffraction-ID
% possible all
1.42-1.44
6
0.402
1367
0.739
1
100
1.44-1.47
6.3
0.378
1407
0.797
1
100
1.47-1.5
6.8
0.327
1377
0.825
1
100
1.5-1.53
7
0.288
1392
0.871
1
100
1.53-1.56
7.1
0.253
1388
0.955
1
100
1.56-1.6
7.2
0.202
1385
0.984
1
100
1.6-1.64
7.3
0.172
1389
1.078
1
100
1.64-1.68
7.2
0.152
1386
1.163
1
100
1.68-1.73
7.2
0.132
1391
1.304
1
100
1.73-1.79
7.3
0.12
1397
1.53
1
100
1.79-1.85
7.3
0.097
1398
1.551
1
100
1.85-1.93
7.4
0.079
1393
1.724
1
100
1.93-2.01
7.4
0.07
1389
1.959
1
100
2.01-2.12
7.4
0.064
1374
2.181
1
100
2.12-2.25
7.3
0.062
1408
2.668
1
100
2.25-2.43
7.4
0.058
1390
2.778
1
100
2.43-2.67
7.4
0.051
1396
2.786
1
100
2.67-3.06
7.4
0.044
1402
2.81
1
100
3.06-3.85
7.3
0.036
1408
2.636
1
100
3.85-50
6.9
0.033
1422
2.679
1
98.7
-
位相決定
位相決定
手法: 単波長異常分散
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
SCALEPACK
データスケーリング
SHELX
位相決定
REFMAC
精密化
PDB_EXTRACT
3.11
データ抽出
HKL-2000
データ収集
HKL-2000
データ削減
SHELXD
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.42→40.56 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.978 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.966 / WRfactor Rfree: 0.1756 / WRfactor Rwork: 0.1355 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.4 / FOM work R set: 0.9231 / SU B: 1.513 / SU ML: 0.027 / SU R Cruickshank DPI: 0.0534 / SU Rfree: 0.0521 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.053 / ESU R Free: 0.052 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT U VALUES: REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.1664
1397
5 %
RANDOM
Rwork
0.1295
-
-
-
obs
0.1314
27859
99.22 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK