ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 | NB |
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XSCALE | | データスケーリング | | PHASER | 2.5.2位相決定 | | REFMAC | | 精密化 | | PDB_EXTRACT | 3.11 | データ抽出 | | StructureStudio | | データ収集 | | XDS | | データ削減 | | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: native structure, pdb entry 4J3G 解像度: 2→41.58 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.953 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.914 / WRfactor Rfree: 0.2248 / WRfactor Rwork: 0.1728 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.5 / FOM work R set: 0.8538 / SU B: 7.336 / SU ML: 0.11 / SU R Cruickshank DPI: 0.177 / SU Rfree: 0.1624 / Isotropic thermal model: isotropic, TLS / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.177 / ESU R Free: 0.162 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES: WITH TLS ADDED
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.2248 | 1232 | 5.1 % | RANDOM |
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Rwork | 0.1728 | - | - | - |
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all | 0.1754 | 24280 | - | - |
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obs | 0.1754 | 22938 | 99.54 % | - |
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK |
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原子変位パラメータ | Biso max: 74.73 Å2 / Biso mean: 24.201 Å2 / Biso min: 9.08 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -0.22 Å2 | 0 Å2 | -0.22 Å2 |
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2- | - | 0.58 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -0.35 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2→41.58 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 2516 | 0 | 56 | 303 | 2875 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.013 | 0.019 | 2624 | X-RAY DIFFRACTION | r_bond_other_d0.001 | 0.02 | 2477 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.444 | 1.972 | 3571 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_other_deg0.734 | 3 | 5634 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg6.242 | 5 | 328 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg34.353 | 23.333 | 123 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg12.401 | 15 | 406 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_4_deg17.918 | 15 | 23 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.085 | 0.2 | 398 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.007 | 0.02 | 3027 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_other0.001 | 0.02 | 641 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it0.955 | 1.086 | 1313 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_other0.952 | 1.086 | 1312 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it1.555 | 1.621 | 1637 | | | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2→2.052 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.277 | 88 | - |
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Rwork | 0.185 | 1620 | - |
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all | - | 1708 | - |
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obs | - | 1709 | 95.42 % |
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精密化 TLS | 手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION ID | L11 (°2) | L12 (°2) | L13 (°2) | L22 (°2) | L23 (°2) | L33 (°2) | S11 (Å °) | S12 (Å °) | S13 (Å °) | S21 (Å °) | S22 (Å °) | S23 (Å °) | S31 (Å °) | S32 (Å °) | S33 (Å °) | T11 (Å2) | T12 (Å2) | T13 (Å2) | T22 (Å2) | T23 (Å2) | T33 (Å2) | Origin x (Å) | Origin y (Å) | Origin z (Å) |
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1 | 0.2812 | 0.1139 | 0.1817 | 1.1395 | -0.119 | 0.9279 | 0.0493 | -0.0497 | -0.0283 | 0.0307 | -0.0073 | -0.0031 | 0.0464 | -0.0543 | -0.042 | 0.1219 | 0.0224 | -0.0544 | 0.0246 | 0.0072 | 0.0609 | 22.079 | 35.938 | 13.044 | 2 | 1.8828 | -0.221 | 1.2504 | 0.3374 | 0.1961 | 2.6126 | -0.1728 | -0.315 | 0.1758 | -0.0329 | 0.0367 | -0.0186 | -0.3693 | -0.2775 | 0.1361 | 0.1913 | 0.0559 | -0.0805 | 0.0583 | -0.0359 | 0.0936 | 17.689 | 64.341 | 19.189 |
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精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Auth asym-ID | Auth seq-ID |
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1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A0 - 164 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A201 - 204 | 3 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | B2 - 164 | 4 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | B201 - 202 | | | | |
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