プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.078 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.55→50 Å / Num. obs: 44593 / % possible obs: 97.9 % / 冗長度: 7.4 % / Rmerge(I) obs: 0.066 / Χ2: 0.937 / Net I/σ(I): 8.8
反射 シェル
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Rmerge(I) obs
Num. unique all
Χ2
Diffraction-ID
% possible all
1.55-1.58
7.3
0.453
2150
0.629
1
95.6
1.58-1.61
7.4
0.401
2158
0.651
1
96.2
1.61-1.64
7.4
0.352
2172
0.665
1
97.2
1.64-1.67
7.5
0.319
2183
0.676
1
96.5
1.67-1.71
7.5
0.29
2166
0.701
1
96.7
1.71-1.75
7.5
0.256
2180
0.723
1
97.1
1.75-1.79
7.5
0.216
2194
0.741
1
97.1
1.79-1.84
7.5
0.183
2190
0.78
1
97.2
1.84-1.89
7.5
0.153
2199
0.817
1
97.5
1.89-1.95
7.5
0.126
2227
0.938
1
97.9
1.95-2.02
7.5
0.112
2189
1.096
1
98.1
2.02-2.1
7.5
0.097
2209
1.14
1
98.4
2.1-2.2
7.5
0.079
2241
1.029
1
98.2
2.2-2.32
7.5
0.071
2230
0.992
1
98.3
2.32-2.46
7.4
0.063
2255
0.998
1
98.8
2.46-2.65
7.4
0.06
2282
1.124
1
99.1
2.65-2.92
7.4
0.053
2265
1.288
1
98.9
2.92-3.34
7.4
0.039
2306
1.235
1
99.4
3.34-4.21
7.3
0.032
2326
1.213
1
99.5
4.21-50
6.8
0.03
2471
1.249
1
99.5
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
SCALEPACK
データスケーリング
REFMAC
精密化
PDB_EXTRACT
3.11
データ抽出
HKL-2000
データ収集
HKL-2000
データ削減
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.55→48.95 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.973 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.959 / WRfactor Rfree: 0.1826 / WRfactor Rwork: 0.134 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.5 / FOM work R set: 0.9113 / SU B: 2.452 / SU ML: 0.041 / SU R Cruickshank DPI: 0.0814 / SU Rfree: 0.0746 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.081 / ESU R Free: 0.075 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT U VALUES : REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.1864
2246
5 %
RANDOM
Rwork
0.1333
-
-
-
obs
0.1359
44546
97.81 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK