プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.28 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.5→30 Å / Num. obs: 49820 / % possible obs: 98.8 % / 冗長度: 9.3 % / Rmerge(I) obs: 0.095 / Χ2: 0.986 / Net I/σ(I): 9.6
反射 シェル
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Rmerge(I) obs
Num. unique all
Χ2
Diffraction-ID
% possible all
1.5-1.55
7.1
0.603
4670
0.745
1
94.2
1.55-1.62
9.2
0.492
4891
0.785
1
98.2
1.62-1.69
9.5
0.389
4910
0.809
1
98.9
1.69-1.78
9.6
0.296
4956
0.84
1
99.1
1.78-1.89
9.6
0.209
4966
0.934
1
99.3
1.89-2.04
9.6
0.147
4972
1.157
1
99.6
2.04-2.24
9.6
0.105
5035
1.135
1
99.8
2.24-2.56
9.7
0.092
5068
1.203
1
100
2.56-3.23
9.6
0.071
5105
1.192
1
100
3.23-30
9.4
0.054
5247
0.95
1
98.5
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
SCALEPACK
データスケーリング
REFMAC
精密化
PDB_EXTRACT
3.11
データ抽出
HKL-2000
データ収集
HKL-2000
データ削減
SHELXS
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.5→30 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.977 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.962 / WRfactor Rfree: 0.1633 / WRfactor Rwork: 0.1217 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.5 / FOM work R set: 0.9179 / SU B: 1.959 / SU ML: 0.034 / SU R Cruickshank DPI: 0.0685 / SU Rfree: 0.0635 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.069 / ESU R Free: 0.064 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT U VALUES : REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.1683
2440
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.1236
-
-
-
obs
0.1258
48109
95.36 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK