プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.28 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.55→30 Å / Num. obs: 44556 / % possible obs: 98.3 % / 冗長度: 8.5 % / Rmerge(I) obs: 0.093 / Χ2: 1.807 / Net I/σ(I): 11.4
反射 シェル
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Rmerge(I) obs
Num. unique all
Χ2
Diffraction-ID
% possible all
1.55-1.61
4.7
0.529
3787
1.008
1
85.2
1.61-1.67
6.4
0.42
4377
1.118
1
97.5
1.67-1.75
9
0.345
4480
1.206
1
100
1.75-1.84
9.1
0.249
4475
1.379
1
100
1.84-1.95
9.1
0.168
4507
1.614
1
100
1.95-2.1
9.1
0.128
4471
1.825
1
100
2.1-2.32
9.2
0.106
4528
2.155
1
100
2.32-2.65
9.2
0.087
4549
2.441
1
100
2.65-3.34
9.2
0.079
4592
2.456
1
100
3.34-30
8.8
0.064
4790
2.08
1
99.9
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
SCALEPACK
データスケーリング
REFMAC
精密化
PDB_EXTRACT
3.11
データ抽出
HKL-2000
データ収集
HKL-2000
データ削減
SHELXS
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.55→30 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.971 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.942 / WRfactor Rfree: 0.1869 / WRfactor Rwork: 0.1336 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.5 / FOM work R set: 0.9025 / SU B: 2.421 / SU ML: 0.04 / SU R Cruickshank DPI: 0.0804 / SU Rfree: 0.0744 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.08 / ESU R Free: 0.074 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT U VALUES : REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.1878
2255
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.1333
-
-
-
obs
0.1362
44501
98.25 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK