ソフトウェア 名称 バージョン 分類 ADSCQuantumデータ収集 MOLREP位相決定 REFMAC5.6.0117精密化 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 1ikt解像度 : 2.2→29.19 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.955 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.952 / SU B : 10.454 / SU ML : 0.13 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.22 / ESU R Free : 0.176 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUTRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.21714 812 5 % RANDOM Rwork 0.18661 - - - all 0.18815 15338 - - obs 0.18815 15338 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 41.608 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.85 Å2 -0.42 Å2 0 Å2 2- - -0.85 Å2 0 Å2 3- - - 1.27 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.2→29.19 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1883 0 62 75 2020
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.008 0.02 1961 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.277 1.992 2614 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.446 5 245 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg40.113 27.073 82 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg14.823 15 379 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg12.33 15 4 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.083 0.2 288 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.02 1414 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION r_scbond_itX-RAY DIFFRACTION r_scangle_itX-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.2→2.257 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.257 59 - Rwork 0.208 989 - obs - - 100 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.6219 -0.837 0.7095 3.4952 -0.7473 1.1105 -0.0758 -0.2373 0.0109 0.2438 0.1242 0.116 -0.153 -0.0747 -0.0484 0.0599 0.0071 0.0195 0.0556 0.0228 0.0426 39.6521 -10.772 22.5667 2 5.4693 0.7663 -0.5346 1.3254 0.372 1.3095 -0.0034 -0.0243 0.0336 0.0913 0.0274 -0.0202 0.12 0.0671 -0.0241 0.02 0.0287 0.0078 0.1267 -0.0044 0.0531 33.6553 -29.0524 41.3001
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A1 - 119 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B1 - 128