ソフトウェア 名称 バージョン 分類 MAR345dtbデータ収集 PHENIXモデル構築 CNS1.2 精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング PHENIX位相決定
精密化 解像度 : 2.5→34.88 Å / Rfactor Rfree error : 0.007 / Data cutoff high absF : 2114284.91 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 詳細 : BULK SOLVENT MODEL USEDRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.278 1482 5 % RANDOM Rwork 0.255 - - - obs 0.255 29561 97.7 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 62.8006 Å2 / ksol : 0.35 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 43 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.27 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.27 Å2 0 Å2 3- - - -0.54 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.41 Å 0.36 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.44 Å 0.37 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.5→34.88 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3614 0 0 329 3943
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.007 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.5 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d27.5 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.77 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it5.29 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it7.99 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2.85 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it4.5 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 2.5→2.66 Å / Rfactor Rfree error : 0.023 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.354 235 4.9 % Rwork 0.352 4517 - obs - - 96.2 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 protein_rep.paramprotein.topX-RAY DIFFRACTION 2 water_rep.paramwater.topX-RAY DIFFRACTION 3 act.paramact.top