ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 | NB |
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XSCALE | | データスケーリング | | PHASER | 2.3.0位相決定 | | REFMAC | | 精密化 | | PDB_EXTRACT | 3.11 | データ抽出 | | StructureStudio | | データ収集 | | XDS | | データ削減 | | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: pdb entry 1ggg modified with CCP4 program chainsaw 解像度: 2.4→50 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.952 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.931 / WRfactor Rfree: 0.1849 / WRfactor Rwork: 0.1519 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.25 / FOM work R set: 0.864 / SU B: 13.829 / SU ML: 0.164 / SU R Cruickshank DPI: 0.3878 / SU Rfree: 0.2297 / Isotropic thermal model: isotropic, TLS / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.388 / ESU R Free: 0.23 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : WITH TLS ADDED
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.2152 | 986 | 5.1 % | RANDOM |
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Rwork | 0.1769 | - | - | - |
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all | 0.1789 | 19249 | - | - |
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obs | 0.1789 | 19235 | 99.93 % | - |
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK |
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原子変位パラメータ | Biso max: 71.14 Å2 / Biso mean: 30.518 Å2 / Biso min: 10.14 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -0.35 Å2 | 0 Å2 | 0.5 Å2 |
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2- | - | 0.3 Å2 | -0 Å2 |
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3- | - | - | 0.23 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.4→50 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 3345 | 0 | 0 | 128 | 3473 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.014 | 0.02 | 3430 | X-RAY DIFFRACTION | r_bond_other_d0.005 | 0.02 | 2260 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.588 | 1.951 | 4662 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_other_deg1.166 | 3 | 5524 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg6.272 | 5 | 443 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg42.528 | 24.722 | 144 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg13.939 | 15 | 533 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_4_deg18.63 | 15 | 13 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.088 | 0.2 | 515 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.007 | 0.021 | 3891 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_other0.005 | 0.02 | 702 | | | | | | | | | | | |
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Refine LS restraints NCS | Ens-ID: 1 / 数: 7249 / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Rms: 0.09 / タイプ: LOCAL / Weight: 0.05 |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.4→2.462 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.309 | 60 | - |
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Rwork | 0.265 | 1283 | - |
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all | - | 1343 | - |
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obs | - | - | 100 % |
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精密化 TLS | 手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION ID | L11 (°2) | L12 (°2) | L13 (°2) | L22 (°2) | L23 (°2) | L33 (°2) | S11 (Å °) | S12 (Å °) | S13 (Å °) | S21 (Å °) | S22 (Å °) | S23 (Å °) | S31 (Å °) | S32 (Å °) | S33 (Å °) | T11 (Å2) | T12 (Å2) | T13 (Å2) | T22 (Å2) | T23 (Å2) | T33 (Å2) | Origin x (Å) | Origin y (Å) | Origin z (Å) |
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1 | 0.9225 | -0.8487 | -0.0264 | 3.2034 | 0.0088 | 0.9554 | -0.0473 | -0.1074 | -0.0295 | 0.0453 | 0.0564 | 0.0192 | 0.0006 | 0.1341 | -0.0091 | 0.0879 | 0.0088 | 0.098 | 0.2261 | -0.0038 | 0.1104 | -8.823 | -19.924 | -24.021 | 2 | 2.8268 | -0.2397 | -0.3317 | 1.0914 | -0.2067 | 1.3597 | -0.0044 | -0.0876 | 0.056 | 0.2473 | 0.0692 | 0.0484 | -0.1274 | -0.0077 | -0.0649 | 0.177 | 0.0008 | 0.0822 | 0.1603 | -0.0289 | 0.0478 | -29.56 | 7.386 | -4.928 |
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精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Auth asym-ID | Auth seq-ID |
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1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A26 - 300 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A401 - 468 | 3 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | B26 - 300 | 4 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | B401 - 460 | | | | |
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