プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9795 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 3.3→76.23 Å / Num. obs: 89499 / % possible obs: 98.8 % / Observed criterion σ(I): 1 / 冗長度: 3.9 % / Rmerge(I) obs: 0.1 / Net I/σ(I): 7.4
反射 シェル
解像度: 3.3→3.48 Å / 冗長度: 3.9 % / Rmerge(I) obs: 0.66 / Mean I/σ(I) obs: 1.9 / % possible all: 98.6
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
XDS
データ削減
SCALA
データスケーリング
SHELXD
位相決定
SHARP
位相決定
PHENIX
1.7.3_928
精密化
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 開始モデル: NONE 解像度: 3.3→49.549 Å / SU ML: 0.41 / σ(F): 1.35 / 位相誤差: 25.31 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: LINKER REGION BETWEEN 126-141 IS MISSING THERE IS DENSITY BUT TOO POOR TO BUILD THE LINKER RELIABLY.
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.2448
4488
5 %
Rwork
0.2252
-
-
obs
0.2262
89468
98.59 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.86 Å / VDWプローブ半径: 1.1 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL / Bsol: 77.903 Å2 / ksol: 0.328 e/Å3