プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9795 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.75→122.68 Å / Num. obs: 30020 / % possible obs: 99.8 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 4.8 % / Rmerge(I) obs: 0.07 / Net I/σ(I): 14.1
反射 シェル
解像度: 1.75→1.84 Å / 冗長度: 4.9 % / Rmerge(I) obs: 0.74 / Mean I/σ(I) obs: 2 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.6.0117
精密化
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単一同系置換・異常分散 開始モデル: NONE 解像度: 1.75→122.66 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.961 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.949 / SU B: 4.213 / SU ML: 0.069 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.107 / ESU R Free: 0.101 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.20473
1521
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.18074
-
-
-
obs
0.18195
28447
99.59 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK