プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.11587 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.3→46.83 Å / Num. obs: 51896 / % possible obs: 99.6 % / Observed criterion σ(I): 2.5 / 冗長度: 3.9 % / Biso Wilson estimate: 36.16 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.06 / Net I/σ(I): 18.9
反射 シェル
解像度: 2.3→2.36 Å / 冗長度: 3.6 % / Rmerge(I) obs: 0.46 / Mean I/σ(I) obs: 2.9 / % possible all: 96.8
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
(PHENIX.REFINE)
精密化
XDS
データ削減
XSCALE
データスケーリング
autoSHARP
位相決定
精密化
構造決定の手法: 多波長異常分散 開始モデル: NONE 解像度: 2.3→46.825 Å / SU ML: 0.67 / σ(F): 1.99 / 位相誤差: 23.33 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: CHAIN A RESIDUES 1-3, 130-143, 401-411 AND 497-502 ARE DISORDERED. CHAIN B RESIDUES 1-4, 129-143, 401-423 AND 494-502 ARE DISORDERED
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.2472
2594
5 %
Rwork
0.1959
-
-
obs
0.1984
51896
99.59 %
溶媒の処理
減衰半径: 1.06 Å / VDWプローブ半径: 1.3 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL / Bsol: 48.448 Å2 / ksol: 0.372 e/Å3