プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9798 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 3.4→65.97 Å / Num. obs: 55102 / % possible obs: 97.9 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 3.3 % / Biso Wilson estimate: 53.985 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.15 / Net I/σ(I): 6.5
反射 シェル
解像度: 3.4→3.58 Å / 冗長度: 3.2 % / Rmerge(I) obs: 0.45 / Mean I/σ(I) obs: 2.6 / % possible all: 95.8
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.6.0117
精密化
iMOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
MOLREP
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: APO FORM SEE PAPER 解像度: 3.4→55.73 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.85 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.819 / SU B: 118.275 / SU ML: 0.817 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.665 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. DISORDERED WERE REMOVED
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.28606
2544
4.6 %
RANDOM
Rwork
0.26784
-
-
-
obs
0.26875
52483
97.53 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK