ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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X-PLOR | | モデル構築 | X-PLOR | 3.851 | 精密化 | DENZO | | データ削減 | X-PLOR | | 位相決定 |
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精密化 | 解像度: 1.9→10 Å / 交差検証法: LUZZATI PLOT / σ(F): 2
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.262 | 208 | 5 % |
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Rwork | 0.199 | - | - |
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obs | 0.199 | 4373 | 87.84 % |
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Refine analyze | Luzzati coordinate error obs: 0.31 Å / Luzzati d res low obs: 10 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.9→10 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 0 | 372 | 0 | 37 | 409 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg0.008 | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / バージョン: 3.851 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS 最高解像度: 1.9 Å / 最低解像度: 10 Å / σ(F): 2 / % reflection Rfree: 5 % / Rfactor obs: 0.179 / Rfactor Rfree: 0.205 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d0.007 | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg1.26 | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_deg8.08 | | | | |
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