ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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X-PLOR | 3.1 | 精密化 | XSCANS | | データ削減 | XSCANS | | データスケーリング |
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精密化 | 解像度: 1.65→8 Å / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 1 / Isotropic thermal model: ISOTROPIC / σ(F): 3
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.248 | - | 10 % |
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Rwork | 0.196 | - | - |
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obs | 0.196 | 1875 | - |
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Refine Biso | クラス: 1 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.65→8 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 0 | 240 | 4 | 35 | 279 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d0.008 | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg1.47 | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.93→2.07 Å / Total num. of bins used: 8
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.326 | - | 9 % |
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Rwork | 0.23 | 187 | - |
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obs | - | - | 53.1 % |
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Xplor file | Serial no: 1 / Param file: DNA-RNA.PARAM / Topol file: DNA-RNA.TOP |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / バージョン: 3.1 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS 最高解像度: 1.65 Å / 最低解像度: 8 Å / σ(F): 3 / % reflection Rfree: 10 % |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.3263 / % reflection Rfree: 9 % / Rfactor Rwork: 0.2298 |
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