ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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HKL-2000 | | データ収集 | PHASER | | 位相決定 | PHENIX | (phenix.refine: 1.8.4_1496)精密化 | XDS | | データ削減 | SCALA | | データスケーリング | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: 2UVD 解像度: 2.5→51.274 Å / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 1 / FOM work R set: 0.7203 / SU ML: 0.29 / σ(F): 1.35 / 位相誤差: 30.15 / 立体化学のターゲット値: ML
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.2707 | 341 | 4.64 % | RANDOM |
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Rwork | 0.2174 | - | - | - |
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obs | 0.22 | 7349 | 99.42 % | - |
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溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL |
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原子変位パラメータ | Biso max: 150.09 Å2 / Biso mean: 67.4637 Å2 / Biso min: 26.11 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.5→51.274 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1707 | 0 | 0 | 15 | 1722 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | f_bond_d0.006 | 1724 | X-RAY DIFFRACTION | f_angle_d1.142 | 2324 | X-RAY DIFFRACTION | f_chiral_restr0.037 | 272 | X-RAY DIFFRACTION | f_plane_restr0.003 | 306 | X-RAY DIFFRACTION | f_dihedral_angle_d15.084 | 628 | | | | | |
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LS精密化 シェル | Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used: 2 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | Num. reflection all | % reflection obs (%) |
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2.5-3.1497 | 0.3474 | 161 | 0.2741 | 3425 | 3586 | 100 | 3.1497-51.2851 | 0.2483 | 180 | 0.199 | 3583 | 3763 | 99 |
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精密化 TLS | 手法: refined / Origin x: 18.6926 Å / Origin y: -16.2395 Å / Origin z: -15.4302 Å
| 11 | 12 | 13 | 21 | 22 | 23 | 31 | 32 | 33 |
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T | 0.3369 Å2 | 0.0541 Å2 | -0.0919 Å2 | - | 0.558 Å2 | 0.0525 Å2 | - | - | 0.4086 Å2 |
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L | 2.6928 °2 | -0.59 °2 | -0.0066 °2 | - | 2.2445 °2 | -0.1389 °2 | - | - | 3.1004 °2 |
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S | -0.123 Å ° | 0.7325 Å ° | 0.431 Å ° | -0.2929 Å ° | -0.17 Å ° | 0.2406 Å ° | -0.5254 Å ° | -0.5662 Å ° | 0.2332 Å ° |
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精密化 TLSグループ | Selection details: ALL |
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