構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.85→84.62 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.968 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.959 / SU B: 4.615 / SU ML: 0.069 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.1 / ESU R Free: 0.1 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.20618
1882
5 %
RANDOM
Rwork
0.17616
-
-
-
all
0.20618
35819
-
-
obs
0.17775
35759
99.83 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 38.392 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
0.74 Å2
0.37 Å2
0 Å2
2-
-
0.74 Å2
0 Å2
3-
-
-
-1.11 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.85→84.62 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
2209
0
28
153
2390
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.027
0.02
2309
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
2.234
1.96
3136
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
6.572
5
272
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
35.107
23.109
119
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
13.899
15
379
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
19.809
15
21
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.197
0.2
331
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.013
0.021
1798
LS精密化 シェル
解像度: 1.849→1.897 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.335
143
-
Rwork
0.266
2560
-
obs
-
-
99.78 %
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: -30.9229 Å / Origin y: -27.3963 Å / Origin z: 0.6877 Å