プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.8→30 Å / Num. all: 29993 / Num. obs: 29882 / % possible obs: 99.86 % / 冗長度: 7.2 % / Rmerge(I) obs: 0.076 / Net I/σ(I): 18.0335
反射 シェル
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Rmerge(I) obs
Num. measured all
Num. unique all
Diffraction-ID
% possible all
1.8-1.9
7.07
0.89
30390
4298
1
99.51
1.9-2.01
7.11
0.53
29061
4085
1
99.78
2.01-2.15
7.15
0.34
27731
3877
1
99.93
2.15-2.32
7.21
0.2
26106
3621
1
99.99
2.32-2.55
7.29
0.13
24001
3294
1
100
2.55-2.85
7.34
0.09
22128
3016
1
100
2.85-3.29
7.34
0.05
19598
2670
1
100
3.29-4.02
7.24
0.04
16344
2256
1
100
4.02-5.69
7.27
0.03
12882
1773
1
100
5.69-30
7.06
0.02
7002
992
1
99.16
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
SCALA
CCP4_3.3.16
データスケーリング
SHELX
位相決定
REFMAC
refmac_5.5.0109
精密化
PDB_EXTRACT
3.11
データ抽出
JDirector
データ収集
XDS
データ削減
ARP/wARP
モデル構築
Coot
モデル構築
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.8→28.54 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.948 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.934 / WRfactor Rfree: 0.224 / WRfactor Rwork: 0.189 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.3 / SU B: 6.951 / SU ML: 0.096 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R Free: 0.122 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : WITH TLS ADDED. The second data set attached is based on the same diffraction images as the refinement amplitudes but was ...詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : WITH TLS ADDED. The second data set attached is based on the same diffraction images as the refinement amplitudes but was processed in HKL3000 and used for SAD phasing.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2349
1513
5.1 %
THIN SHELLS (SFTOOLS)
Rwork
0.2018
-
-
-
obs
0.2036
29857
99.78 %
-
all
-
29923
-
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK