ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 CNS精密化 REFMAC5.5.0109精密化 HKL-2000データ削減 SCALAデータスケーリング CNS位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 3T7D解像度 : 1.7→40.39 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.949 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.933 / SU B : 4.3 / SU ML : 0.066 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.118 / ESU R Free : 0.11 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.20921 4761 5 % RANDOM Rwork 0.17912 - - - obs 0.18061 90507 97.59 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 16.798 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0 Å2 0 Å2 -0.02 Å2 2- - 0.07 Å2 0 Å2 3- - - -0.08 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.7→40.39 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 7387 0 18 828 8233
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.009 0.021 7560 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.221 1.938 10301 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.544 5 941 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg34.831 22.737 380 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg13.443 15 1149 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg16.662 15 89 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.082 0.2 1128 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.021 5951 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.576 1.5 4714 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.121 2 7547 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.983 3 2846 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.279 4.5 2754 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
Refine LS restraints NCS Dom-ID : 1 / Auth asym-ID : A / Ens-ID : 1 / 数 : 3521 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
タイプ Rms dev position (Å)Weight position medium positional0.27 0.5 medium thermal0.81 2
LS精密化 シェル 解像度 : 1.697→1.741 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.26 291 - Rwork 0.22 5308 - obs - - 78.41 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.6303 0.0061 0.1659 0.2205 -0.0583 0.1966 0.0323 0.1865 0.0231 -0.0444 -0.0222 -0.0283 0.0316 0.0815 -0.0101 0.0445 0.0293 0.0115 0.0868 0.0081 0.0446 24.837 13.529 16.554 2 0.4513 -0.07 0.1263 0.1656 -0.0146 0.3646 0.0117 -0.0435 -0.0147 0.0099 0.0041 0.0439 0.0189 -0.0343 -0.0158 0.0356 -0.0032 0.0012 0.006 0.0011 0.0586 -4.596 11.051 41.701
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A5 - 478 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B3 - 481