ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB SCALA3.3.15データスケーリング Show PHASER位相決定 Show RESOLVE2.15 位相決定 Show PHENIXdev_572精密化 Show PDB_EXTRACT3.1 データ抽出 Show BOSデータ収集 XSCALEデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 1.95→62.895 Å / Occupancy max : 1 / Occupancy min : 0 / FOM work R set : 0.7699 / SU ML : 0.32 / σ(F) : 0.23 / 立体化学のターゲット値 : MLRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2431 1962 8.9 % From phenix.refine Rwork 0.2294 - - - obs 0.2307 22038 96.16 % -
溶媒の処理 減衰半径 : 0.72 Å / VDWプローブ半径 : 1 Å / 溶媒モデル : FLAT BULK SOLVENT MODEL / Bsol : 25.258 Å2 / ksol : 0.364 e/Å3 原子変位パラメータ Biso max : 324.69 Å2 / Biso mean : 40.1859 Å2 / Biso min : 16.87 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 17.9289 Å2 -0 Å2 0 Å2 2- - -6.9843 Å2 -0 Å2 3- - - 10.3856 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.95→62.895 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 1913 57 103 2073
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal 数 X-RAY DIFFRACTION f_bond_d0.002 2196 X-RAY DIFFRACTION f_angle_d0.502 3448 X-RAY DIFFRACTION f_chiral_restr0.052 446 X-RAY DIFFRACTION f_plane_restr0.004 92 X-RAY DIFFRACTION f_dihedral_angle_d16.272 1076
LS精密化 シェル Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used : 14
解像度 (Å)Rfactor Rfree Num. reflection Rfree Rfactor Rwork Num. reflection Rwork Num. reflection all % reflection obs (%)1.95-1.9947 0.3751 129 0.346 1294 1423 90 1.9947-2.0486 0.3351 136 0.3231 1368 1504 94 2.0486-2.1089 0.3266 129 0.3155 1354 1483 91 2.1089-2.177 0.3372 136 0.3108 1377 1513 96 2.177-2.2548 0.3194 140 0.3083 1438 1578 97 2.2548-2.3451 0.3919 133 0.3031 1378 1511 95 2.3451-2.4518 0.2365 143 0.2838 1466 1609 98 2.4518-2.5811 0.327 137 0.2806 1413 1550 97 2.5811-2.7428 0.3083 148 0.2952 1498 1646 99 2.7428-2.9545 0.3052 141 0.2772 1442 1583 98 2.9545-3.2519 0.2263 143 0.23 1466 1609 98 3.2519-3.7224 0.2445 144 0.2138 1476 1620 98 3.7224-4.6896 0.1774 150 0.1734 1526 1676 98 4.6896-62.9551 0.1872 153 0.1815 1580 1733 96
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 5) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.4674 -0.009 0.0911 0.8952 -0.1448 0.1934 0.0217 0.0466 0.1102 -0.0114 -0.0504 -0.1216 0.0466 -0.0159 -0.0339 0.5477 0.3889 -0.0878 0.3848 0.1061 0.3606 10.344 -16.9718 15.3993 2 0.0183 0.0147 -0.0414 0.5624 -0.2874 0.2209 0.0364 0.0959 0.0436 0.0583 -0.0355 -0.0026 -0.0987 -0.0669 -0.0613 0.1661 0.1012 0.0083 0.2392 0.0744 0.1135 6.5979 -1.668 28.7864 3 0.315 -0.0262 0.2115 0.2918 -0.3101 0.5082 0.0009 0.2221 0.1773 0.1746 -0.0265 -0.007 -0.1278 0.1289 -0.1134 0.3103 0.0852 0.026 0.343 0.0531 0.2366 10.1873 -10.5908 31.2087 4 0.016 0.0034 0.0083 0.0237 -0.0077 0.0127 -0.0019 -0.0066 -0.0354 0.0539 -0.0046 -0.0027 0.0989 0.1005 -0.0113 0.0521 0.1873 -0.0596 0.3438 0.2725 0.2286 2.3964 9.1789 7.5665 5 0.0984 0.0402 0.0728 0.1119 -0.0304 0.1029 -0.0016 0.1236 0.0742 -0.148 -0.106 0.0306 0.1393 0.0649 -0.0871 0.6521 0.3776 -0.0321 0.3141 0.0047 0.2361 13.4808 -30.0767 18.0629
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Selection details 1 X-RAY DIFFRACTION 1 CHAIN A AND RESID 1:182 X-RAY DIFFRACTION 2 CHAIN A AND RESID 19:353 X-RAY DIFFRACTION 3 CHAIN A AND RESID 36:554 X-RAY DIFFRACTION 4 CHAIN A AND RESID 56:715 X-RAY DIFFRACTION 5 CHAIN A AND RESID 72:89