ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 | NB |
---|
DENZO | | データ削減 | | SCALEPACK | | データスケーリング | | REFMAC | 5.5.0109精密化 | | PDB_EXTRACT | 3.1 | データ抽出 | | SBC-Collect | | データ収集 | | HKL-3000 | | データ削減 | | HKL-3000 | | データスケーリング | | PHENIX | | 位相決定 | | |
|
---|
精密化 | 構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.07→35.9 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.969 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.958 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.18 / SU B: 8.636 / SU ML: 0.104 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 0 / ESU R Free: 0.151 / 位相誤差: 0.171 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : WITH TLS ADDED
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
---|
Rfree | 0.2081 | 785 | 4.9 % | RANDOM |
---|
Rwork | 0.1717 | - | - | - |
---|
all | 0.1734 | 15938 | - | - |
---|
obs | 0.1734 | 15938 | 99.03 % | - |
---|
|
---|
溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK |
---|
原子変位パラメータ | Biso max: 88.06 Å2 / Biso mean: 43.4159 Å2 / Biso min: 24.43 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
---|
1- | 1.35 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
---|
2- | - | 1.35 Å2 | 0 Å2 |
---|
3- | - | - | -2.7 Å2 |
---|
|
---|
精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.07→35.9 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
---|
原子数 | 1633 | 0 | 4 | 61 | 1698 |
---|
|
---|
拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
---|
X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.019 | 0.022 | 1771 | X-RAY DIFFRACTION | r_bond_other_d0.001 | 0.02 | 1200 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.701 | 1.974 | 2416 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_other_deg0.887 | 3 | 2987 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg6.603 | 5 | 239 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg40.74 | 26.31 | 84 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg16.262 | 15 | 339 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_4_deg12.425 | 15 | 5 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.107 | 0.2 | 275 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.007 | 0.02 | 1985 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_other0.001 | 0.02 | 323 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it0.999 | 1.5 | 1088 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_other0.256 | 1.5 | 436 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it1.827 | 2 | 1776 | X-RAY DIFFRACTION | r_scbond_it2.819 | 3 | 683 | X-RAY DIFFRACTION | r_scangle_it4.585 | 4.5 | 623 | | | | | | | | | | | | | | | | |
|
---|
LS精密化 シェル | 解像度: 2.067→2.121 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
---|
Rfree | 0.231 | 58 | - |
---|
Rwork | 0.235 | 1053 | - |
---|
all | - | 1111 | - |
---|
obs | - | 1111 | 96.36 % |
---|
|
---|
精密化 TLS | 手法: refined / Origin x: 27.8457 Å / Origin y: 6.6124 Å / Origin z: 37.1244 Å
| 11 | 12 | 13 | 21 | 22 | 23 | 31 | 32 | 33 |
---|
T | 0.0765 Å2 | 0.016 Å2 | 0.0164 Å2 | - | 0.0735 Å2 | 0.0065 Å2 | - | - | 0.0848 Å2 |
---|
L | 1.0669 °2 | -0.1582 °2 | -0.1074 °2 | - | 0.8729 °2 | 0.1371 °2 | - | - | 3.8103 °2 |
---|
S | 0.1162 Å ° | 0.0775 Å ° | -0.2132 Å ° | -0.04 Å ° | -0.077 Å ° | 0.0115 Å ° | 0.2372 Å ° | -0.1069 Å ° | -0.0392 Å ° |
---|
|
---|