ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 PHASES位相決定 REFMAC5.5.0109精密化 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB entry 2QFK解像度 : 1.52→35 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.927 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.902 / SU B : 2.834 / SU ML : 0.049 / Isotropic thermal model : ISOTROPIC / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R Free : 0.023 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.25523 2114 5.2 % RANDOM Rwork 0.22317 - - - obs 0.22486 38241 97.75 % - all - 39120 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 5.87 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.7 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.01 Å2 0 Å2 3- - - -0.69 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.52→35 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2178 0 101 256 2535
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.006 0.022 2601 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg0.999 2.066 3579 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg4.218 5 347 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg35.61 24.609 128 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg15.65 15 486 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg16.341 15 17 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.083 0.2 363 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.003 0.02 2036 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.311 1.5 1495 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it0.585 2 2436 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it0.962 3 1106 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it1.489 4.5 1107 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.52→1.559 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.471 161 - Rwork 0.381 2701 - obs - 2701 95.3 %
精密化 TLS L11 : 0 °2 / L12 : 0 °2 / L13 : 0 °2 / L22 : 0 °2 / L23 : 0 °2 / L33 : 0 °2 / S11 : 0 Å ° / S12 : 0 Å ° / S13 : 0 Å ° / S21 : 0 Å ° / S22 : 0 Å ° / S23 : 0 Å ° / S31 : 0 Å ° / S32 : 0 Å ° / S33 : 0 Å ° / T11 : 0 Å2 / T12 : 0 Å2 / T13 : 0 Å2 / T22 : 0 Å2 / T23 : 0 Å2 / T33 : 0 Å2 / 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
ID Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 6.121 -31.7078 12.8673 2 8.0231 -3.9471 -14.5575
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A1 - 137 2 X-RAY DIFFRACTION 2 B1 - 137