THE RESIDUE AT POSITION 426 IS A VARIANT AS LISTED IN UNP ENTRY P00690.PCA IS A POST-TRANSLATIONAL ...THE RESIDUE AT POSITION 426 IS A VARIANT AS LISTED IN UNP ENTRY P00690.PCA IS A POST-TRANSLATIONAL MODIFICATION.
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実験情報
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実験
実験
手法: X線回折 / 使用した結晶の数: 1
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試料調製
結晶
マシュー密度: 4.35 Å3/Da / 溶媒含有率: 71.72 %
結晶化
温度: 298 K / 手法: 蒸発脱水法 / pH: 6.75 詳細: 0.010 M cacodylate, 0.002 M calcium chloride, soaking of alpha-cyclodextrin, pH 6.75, EVAPORATION, temperature 298K
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データ収集
回折
平均測定温度: 298 K
放射光源
由来: 回転陽極 / タイプ: RIGAKU RU200 / 波長: 1.5418 Å
検出器
タイプ: SDMS / 検出器: AREA DETECTOR / 日付: 1993年6月17日
放射
モノクロメーター: Supper graphite / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.97→29.3 Å / Num. all: 62592 / Num. obs: 62592 / % possible obs: 84.6 % / 冗長度: 4.84 % / Biso Wilson estimate: 22 Å2 / Limit h max: 35 / Limit h min: 0 / Limit k max: 58 / Limit k min: 0 / Limit l max: 60 / Limit l min: 0 / Rmerge(I) obs: 0.068 / Net I/σ(I): 19.83
反射 シェル
解像度: 1.97→2.07 Å / 冗長度: 1.61 % / Rmerge(I) obs: 0.178 / Mean I/σ(I) obs: 3.07 / Num. unique all: 5276 / % possible all: 36.6
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解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
SDMS
DetectorSystem
データ収集
REFMAC
5.5.0089
精密化
SDMS
DetectorSystem
データ削減
SDMS
DetectorSystem
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.97→29.3 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.972 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.955 / Num. parameters: 20617 / Num. restraintsaints: 33259 / WRfactor Rfree: 0.1351 / WRfactor Rwork: 0.1038 / Occupancy max: 1 / SU B: 5.189 / SU ML: 0.064 / SU R Cruickshank DPI: 0.1008 / SU Rfree: 0.1019 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.101 / ESU R Free: 0.102 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.16021
6279
10.1 %
RANDOM
Rwork
0.12666
-
-
-
all
0.13005
55805
-
-
obs
0.13005
55805
89.25 %
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溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 18.81 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
0.49 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
-0.48 Å2
0 Å2
3-
-
-
0 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.97→29.3 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
3909
0
200
592
4701
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.012
0.021
4613
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.001
0.02
4234
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.387
1.973
6371
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
0.712
3
9569
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
5.89
5
587
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
35.692
23.964
222
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
13.896
15
702
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
18.079
15
31
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.087
0.2
702
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.006
0.02
5208
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.001
0.02
1127
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
2.148
4
2671
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
0.551
4
1097
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
3.128
8
4352
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
3.789
8
1942
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
4.917
10
1995
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_other_3_deg
1.794
15
2
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.208
0.3
878
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
0.183
0.3
4002
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.187
0.5
2268
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
0.091
0.5
2666
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.204
0.5
673
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_other
0.18
0.5
507
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_refined
0.016
0.5
2
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.131
0.3
9
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
0.221
0.3
34
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.199
0.5
33
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_other
0.192
0.5
10
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_other
1.799
8
3698
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_other
1.343
8
3137
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_other
2.392
10
5871
LS精密化 シェル
Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used: 20