THE RESIDUE AT POSITION 426 IS A VARIANT AS LISTED IN UNP ENTRY P00690. PCA IS A POST-TRANSLATIONAL ...THE RESIDUE AT POSITION 426 IS A VARIANT AS LISTED IN UNP ENTRY P00690. PCA IS A POST-TRANSLATIONAL MODIFICATION.
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実験情報
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実験
実験
手法: X線回折 / 使用した結晶の数: 9
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試料調製
結晶
マシュー密度: 4.34 Å3/Da / 溶媒含有率: 71.67 %
結晶化
温度: 298 K / 手法: 蒸発脱水法 / pH: 6.75 詳細: 0.010 M cacodylate, 0.002 M calcium chloride, pH 6.75, EVAPORATION, temperature 298K
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データ収集
回折
平均測定温度: 298 K
放射光源
由来: 回転陽極 / タイプ: RIGAKU RU200 / 波長: 1.5418 Å
検出器
タイプ: SDMS / 検出器: AREA DETECTOR / 日付: 1992年9月2日
放射
モノクロメーター: Supper Graphite / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.11→14.01 Å / Num. all: 47149 / Num. obs: 47147 / % possible obs: 82.6 % / Biso Wilson estimate: 23.25 Å2 / Limit h max: 33 / Limit h min: 0 / Limit k max: 54 / Limit k min: 0 / Limit l max: 56 / Limit l min: 0 / Rmerge(I) obs: 0.052 / Net I/σ(I): 10.93
反射 シェル
解像度: 2.11→2.22 Å / Mean I/σ(I) obs: 3.91 / Num. unique all: 2315 / % possible all: 28.8
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解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
SDMS
DetectorSystem
データ収集
REFMAC
5.5.0089
精密化
SDMS
DetectorSystem
データ削減
SDMS
DetectorSystem
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 多重同系置換 / 解像度: 2.11→14.01 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.978 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.962 / Num. parameters: 20378 / Num. restraintsaints: 33319 / WRfactor Rfree: 0.135 / WRfactor Rwork: 0.0982 / Occupancy max: 1 / SU B: 6.718 / SU ML: 0.076 / SU R Cruickshank DPI: 0.1264 / SU Rfree: 0.1253 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.126 / ESU R Free: 0.125 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.1572
4749
10.1 %
RANDOM
Rwork
0.11502
-
-
-
all
0.11929
47147
-
-
obs
0.11929
47147
84 %
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溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 19.7 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
1.36 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
-1.27 Å2
0 Å2
3-
-
-
-0.09 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2.11→14.01 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
3909
0
126
584
4619
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.013
0.021
4593
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.001
0.02
4197
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.487
1.948
6337
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
0.813
3
9517
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
6.044
5
597
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
35.877
24.113
231
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
14.545
15
708
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
19.778
15
31
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.112
0.2
672
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.007
0.02
5308
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.001
0.02
1149
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
2.322
4
2699
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
0.595
4
1107
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
3.372
8
4405
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
4.199
8
1894
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
5.443
10
1910
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_other_3_deg
1.678
15
2
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.217
0.3
942
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
0.187
0.3
4191
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.191
0.5
2259
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
0.094
0.5
2710
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.21
0.5
693
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_other
0.189
0.5
523
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_refined
0.07
0.5
2
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.143
0.3
8
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
0.176
0.3
48
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.183
0.5
30
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_other
0.159
0.5
9
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_other
1.889
8
3732
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_other
1.481
8
3090
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_other
2.658
10
5785
LS精密化 シェル
Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used: 20