プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.933 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.2→62.994 Å / Num. obs: 82125 / % possible obs: 100 % / 冗長度: 4 % / Rmerge(I) obs: 0.099 / Rsym value: 0.099 / Net I/σ(I): 6.2
反射 シェル
解像度: 2.2→2.32 Å / 冗長度: 4 % / Rmerge(I) obs: 0.31 / Mean I/σ(I) obs: 2.5 / Rsym value: 0.31 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.2.0019
精密化
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.2→62.99 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.917 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.892 / SU B: 5.056 / SU ML: 0.131 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.226 / ESU R Free: 0.188 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.243
4101
5 %
RANDOM
Rwork
0.212
-
-
-
obs
0.213
81771
99.5 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK