ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 | NB |
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DENZO | | データ削減 | | SCALEPACK | | データスケーリング | | PHASER | 2.1.4位相決定 | | REFMAC | | 精密化 | | PDB_EXTRACT | 3.005 | データ抽出 | | HKL-2000 | | データ削減 | | HKL-2000 | | データスケーリング | | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: 3e2v clipped to contain only homologous sections 解像度: 1.95→50 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.953 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.93 / WRfactor Rfree: 0.22 / WRfactor Rwork: 0.173 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.5 / FOM work R set: 0.83 / SU B: 3.68 / SU ML: 0.107 / SU R Cruickshank DPI: 0.176 / SU Rfree: 0.163 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.176 / ESU R Free: 0.163 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : REFINED INDIVIDUALLY
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.241 | 1201 | 5.1 % | RANDOM |
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Rwork | 0.191 | - | - | - |
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obs | 0.193 | 23556 | 98.83 % | - |
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK |
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原子変位パラメータ | Biso max: 56.28 Å2 / Biso mean: 25.689 Å2 / Biso min: 10.4 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -0.28 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | -0.28 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | 0.55 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.95→50 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 2365 | 0 | 6 | 157 | 2528 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.014 | 0.022 | 2474 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.303 | 1.947 | 3362 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg5.48 | 5 | 314 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg36.248 | 25.333 | 120 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg13.156 | 15 | 420 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_4_deg13.579 | 15 | 8 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.092 | 0.2 | 375 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.005 | 0.02 | 1895 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it0.802 | 1.5 | 1527 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it1.507 | 2 | 2466 | X-RAY DIFFRACTION | r_scbond_it2.358 | 3 | 947 | X-RAY DIFFRACTION | r_scangle_it3.844 | 4.5 | 894 | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.951→2.001 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.252 | 71 | - |
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Rwork | 0.212 | 1519 | - |
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all | - | 1590 | - |
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obs | - | - | 92.71 % |
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