モノクロメーター: Si 111 crystal / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9794 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.44→50 Å / Num. obs: 18220 / % possible obs: 99.4 % / 冗長度: 7.7 % / Rmerge(I) obs: 0.088 / Net I/σ(I): 32.553
反射 シェル
解像度: 2.44→2.48 Å / 冗長度: 6 % / Rmerge(I) obs: 0.497 / Mean I/σ(I) obs: 4.214 / Num. unique all: 859 / % possible all: 93.3
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
SBC-Collect
collect
データ収集
SHELXD
位相決定
MLPHARE
位相決定
ARP
モデル構築
WARP
モデル構築
HKL-3000
位相決定
REFMAC
5.5.0054
精密化
HKL-3000
データ削減
HKL-3000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.44→50 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.947 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.923 / SU B: 8.568 / SU ML: 0.197 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.559 / ESU R Free: 0.289 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD WITH PHASES 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.25486
891
4.9 %
RANDOM
Rwork
0.20248
-
-
-
obs
0.20505
17329
99.81 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK