ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB REFMAC5.2.0019精密化 Show SCALEPACKデータスケーリング Show CNS精密化 Show DENZOデータ削減 Show PDB_EXTRACT3.005 データ抽出 Show CBASSデータ収集 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング CNS位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 1.38→20.73 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.954 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.959 / Occupancy max : 1 / Occupancy min : 0.8 / SU B : 0.849 / SU ML : 0.033 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.064 / ESU R Free : 0.059 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.19236 216 4.7 % RANDOM Rwork 0.18702 - - - obs 0.18726 4373 94.06 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 12.43 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.01 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.01 Å2 0 Å2 3- - - -0.02 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.38→20.73 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 163 0 38 201
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.007 0.021 178 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg3.116 3 262 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_degX-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.087 0.2 30 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.007 0.02 81 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.477 0.2 74 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.285 0.2 100 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.111 0.2 34 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.195 0.2 29 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.076 0.2 9 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION r_scbond_it0.871 3 253 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it1.266 4.5 262 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.38→1.416 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.222 14 - Rwork 0.228 215 - obs - - 65.8 %