モノクロメーター: DIAMOND / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97929 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2→40 Å / Num. obs: 16236 / % possible obs: 100 % / Observed criterion σ(I): -5 / 冗長度: 3.9 % / Biso Wilson estimate: 33.728 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.089 / Net I/σ(I): 5.1
反射 シェル
解像度: 2→2.07 Å / 冗長度: 3.9 % / Rmerge(I) obs: 0.89 / Mean I/σ(I) obs: 0.6 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
MAR345
CCD
データ収集
SHELXCD
位相決定
SHELXE
モデル構築
REFMAC
5.3.0034
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2→20 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.946 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.93 / SU B: 6.005 / SU ML: 0.165 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.248 / ESU R Free: 0.205 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.27092
507
3.1 %
RANDOM
Rwork
0.21641
-
-
-
obs
0.21812
15690
99.96 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK