モノクロメーター: Si 111 / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9724 Å / 相対比: 1
Reflection
冗長度: 3.6 % / Av σ(I) over netI: 9.45 / 数: 47147 / Rmerge(I) obs: 0.072 / Χ2: 1.04 / D res high: 1.75 Å / D res low: 500 Å / Num. obs: 13278 / % possible obs: 96.1
Diffraction reflection shell
最高解像度 (Å)
最低解像度 (Å)
% possible obs (%)
ID
Rmerge(I) obs
Chi squared
Redundancy
3.77
500
96.3
1
0.05
0.971
3.7
2.99
3.77
99.9
1
0.055
1.047
4
2.61
2.99
99.9
1
0.08
1.031
4.1
2.38
2.61
99.9
1
0.095
1.06
4.1
2.2
2.38
99.9
1
0.114
1.061
4.1
2.07
2.2
99.9
1
0.15
1.031
3.9
1.97
2.07
99.2
1
0.164
0.978
3.5
1.89
1.97
96.6
1
0.201
1.116
3
1.81
1.89
90.6
1
0.209
1.116
2.5
1.75
1.81
78.1
1
0.216
0.978
2.2
反射
解像度: 1.75→500 Å / Num. obs: 13278 / % possible obs: 96.1 % / 冗長度: 3.6 % / Rmerge(I) obs: 0.072 / Net I/σ(I): 9.446
反射 シェル
解像度: 1.75→1.81 Å / 冗長度: 2.2 % / Rmerge(I) obs: 0.216 / % possible all: 78.1
-
位相決定
位相決定
手法: 単波長異常分散
Phasing MAD
D res high: 0 Å / D res low: 0 Å / FOM : 0 / 反射: 0