ソフトウェア 大きな表を表示 (4 x 18) 大きな表を隠す 名称 バージョン 分類 NB DENZOデータ削減 Show SCALEPACKデータスケーリング Show REFMAC精密化 Show PDB_EXTRACT3.006 データ抽出 Show SBC-Collectデータ収集 HKL-3000データ削減 HKL-3000データスケーリング HKL-3000位相決定 SHELXD位相決定 SHELXEモデル構築 MLPHARE位相決定 直接法位相決定 SOLVE位相決定 RESOLVE位相決定 ARP/wARPモデル構築 CCP4位相決定 Oモデル構築 Cootモデル構築
精密化 解像度 : 2.1→30.88 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.957 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.922 / WRfactor Rfree : 0.26 / WRfactor Rwork : 0.202 / Occupancy max : 1 / Occupancy min : 0.5 / FOM work R set : 0.873 / SU B : 8.773 / SU ML : 0.12 / SU R Cruickshank DPI : 0.207 / SU Rfree : 0.196 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.192 / ESU R Free : 0.185 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD WITH PHASES詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : RESIDUAL ONLYRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.249 260 4.6 % RANDOM Rwork 0.186 - - - all 0.188 5697 - - obs 0.188 5697 99.39 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso max : 74.59 Å2 / Biso mean : 36.079 Å2 / Biso min : 21.59 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 2.22 Å2 1.11 Å2 0 Å2 2- - 2.22 Å2 0 Å2 3- - - -3.34 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.1→30.88 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 597 0 6 44 647
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 16) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.015 0.021 621 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.002 0.02 421 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.403 1.948 841 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.9 3 1019 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.625 5 81 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg36.403 22.308 26 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg17.821 15 97 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg19.801 15 7 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.081 0.2 97 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.021 701 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 125 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.795 1.5 407 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.142 1.5 165 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.501 2 649 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.285 3 214 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.804 4.5 192
LS精密化 シェル 解像度 : 2.1→2.154 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.239 16 - Rwork 0.22 391 - all - 407 - obs - - 95.32 %
精密化 TLS 手法 : refined / Origin x : 5.4003 Å / Origin y : 28.9214 Å / Origin z : 4.7353 Å11 12 13 21 22 23 31 32 33 T 0.1704 Å2 0.0615 Å2 0.0533 Å2 - 0.1128 Å2 0.0098 Å2 - - 0.0275 Å2 L 3.1005 °2 -0.9572 °2 -0.6178 °2 - 4.7295 °2 0.8007 °2 - - 3.5165 °2 S -0.1553 Å ° 0.1396 Å ° -0.2245 Å ° 0.1838 Å ° -0.0502 Å ° 0.0898 Å ° 0.5656 Å ° 0.2408 Å ° 0.2055 Å °