ソフトウェア 名称 バージョン 分類 ADSCQuantumデータ収集 MOLREP位相決定 REFMAC5.2.0019精密化 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 2FGZ解像度 : 2.1→40 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.935 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.905 / SU B : 8.624 / SU ML : 0.127 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.24 / ESU R Free : 0.192 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.23504 2514 5.1 % RANDOM Rwork 0.19366 - - - obs 0.19576 46648 94.86 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 13.368 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 2.15 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.28 Å2 0 Å2 3- - - -2.43 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.1→40 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 6145 0 9 439 6593
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 25) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.006 0.022 6277 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.002 0.02 4232 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg0.981 1.952 8502 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.814 3 10378 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg8.96 5 784 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg32.26 25.169 296 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg11.107 15 1112 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg15.195 15 26 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.066 0.2 940 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.002 0.02 7005 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 1221 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.188 0.2 1173 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.175 0.2 4419 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.167 0.2 3043 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.079 0.2 3006 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.106 0.2 399 X-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refined0.094 0.2 14 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.142 0.2 6 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.172 0.2 23 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.124 0.2 12 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.029 2 4042 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.222 2 1578 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.441 3 6253 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.184 4 2614 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.039 6 2243
LS精密化 シェル 解像度 : 2.1→2.154 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.266 179 - Rwork 0.204 3538 - obs - - 98 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 3) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.5328 0.3946 0.5653 1.274 0.4365 1.0299 -0.0335 0.1289 -0.0296 -0.0098 0.055 -0.1404 0.0876 0.1691 -0.0215 -0.0073 0.0051 -0.0076 -0.0064 0.0162 -0.0259 19.772 31.3678 -36.146 2 0.1656 0.0224 -0.0044 0.2367 -0.0275 0.7162 0.0053 -0.0017 -0.0183 0.0172 0.0173 0.0096 0.0428 0.0005 -0.0226 -0.0517 0.0114 -0.0049 -0.027 0.0042 -0.0292 -7.888 2.9727 -17.9105 3 0.2419 0.0767 -0.093 0.8484 -0.1712 0.8763 0.0181 -0.0585 0.0291 0.0786 0.0134 0.091 -0.0383 -0.1604 -0.0315 -0.0124 0.0205 0.0187 0.0277 0.0185 -0.0425 -19.1153 7.3455 17.8056
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A382 - 476 2 X-RAY DIFFRACTION 2 A477 - 1053 3 X-RAY DIFFRACTION 3 A1054 - 1160