解像度: 1.7→1.744 Å / 冗長度: 17.5 % / Rmerge(I) obs: 0.727 / Mean I/σ(I) obs: 2.58 / Num. unique all: 2029 / % possible all: 0.995
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.2.0019
精密化
SBC-Collect
データ収集
HKL-3000
データ削減
HKL-3000
データスケーリング
HKL-3000
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.7→45.98 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.959 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.936 / SU B: 4.122 / SU ML: 0.063 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 0 / ESU R: 0.135 / ESU R Free: 0.104 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD WITH PHASES 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.22906
1414
5 %
RANDOM
Rwork
0.18071
-
-
-
obs
0.18301
26715
99.96 %
-
all
-
26726
-
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 20.758 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
0.19 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
0.19 Å2
0 Å2
3-
-
-
-0.38 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.7→45.98 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
1595
0
0
263
1858
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.015
0.022
1611
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.002
0.02
1080
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.471
1.969
2175
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
0.909
3
2647
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
6.081
5
201
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
27.569
25.25
80
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
12.598
15
300
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
18.118
15
12
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.079
0.2
257
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.005
0.02
1789
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.001
0.02
303
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.222
0.2
262
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
0.199
0.2
1141
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.169
0.2
780
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
0.084
0.2
912
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.196
0.2
190
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.23
0.2
23
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
0.272
0.2
80
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.331
0.2
31
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
1.824
1.5
1303
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
0.876
1.5
412
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
2.3
2
1625
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
4.096
3
680
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
5.823
4.5
550
LS精密化 シェル
解像度: 1.7→1.744 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.277
108
-
Rwork
0.178
1920
-
obs
-
2028
99.95 %
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: 36.347 Å / Origin y: 25.038 Å / Origin z: 44.166 Å