モノクロメーター: SI(111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.75→20 Å / Num. all: 40329 / Num. obs: 40290 / % possible obs: 99.9 % / Observed criterion σ(I): 4.9 / 冗長度: 8.5 % / Biso Wilson estimate: 34 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.051 / Net I/σ(I): 24.1
反射 シェル
解像度: 1.75→1.85 Å / 冗長度: 7.3 % / Rmerge(I) obs: 0.327 / Mean I/σ(I) obs: 4.9 / Num. unique all: 6075 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.2.0019
精密化
XDS
データ削減
XSCALE
データスケーリング
SHELXD
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.75→19.39 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.971 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.958 / SU B: 4.278 / SU ML: 0.063 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.096 / ESU R Free: 0.097 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS, TLS-REFINEMENT (1 BODY) WAS USED THROUGHOUT
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.1931
2017
5 %
RANDOM
Rwork
0.15779
-
-
-
obs
0.15953
38241
99.94 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 30.08 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.75→19.39 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
2606
0
40
337
2983
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.028
0.021
2800
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.002
0.02
2007
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
2.136
1.931
3802
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
1.03
3.003
4736
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
6.294
5
333
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
35.08
22.883
163
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
15.194
15
454
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
18.796
15
33
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.143
0.2
372
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.013
0.02
3190
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.001
0.02
648
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.222
0.2
538
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
0.224
0.2
2113
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.192
0.2
1298
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
0.096
0.2
1558
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.248
0.2
236
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.188
0.2
11
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
0.38
0.2
45
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.447
0.2
13
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
1.761
1.5
1653
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
0.549
1.5
650
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
2.333
2
2571
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
3.726
3
1343
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
5.515
4.5
1221
LS精密化 シェル
解像度: 1.75→1.795 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.196
163
-
Rwork
0.168
2742
-
obs
-
-
100 %
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: 36.6423 Å / Origin y: 6.131 Å / Origin z: 79.6803 Å