モノクロメーター: DIAMOND / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9793 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.35→50 Å / Num. obs: 17634 / % possible obs: 100 % / Observed criterion σ(I): -0.5 / 冗長度: 19.2 % / Biso Wilson estimate: 44.05 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.117 / Net I/σ(I): 4
反射 シェル
解像度: 2.35→2.43 Å / 冗長度: 14.7 % / Rmerge(I) obs: 0.93 / Mean I/σ(I) obs: 1.7 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
SHELX
モデル構築
REFMAC
5.3.0034
精密化
MAR345
CCD
データ収集
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
SHELXD
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.4→20 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.948 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.921 / SU B: 7.387 / SU ML: 0.172 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.28 / ESU R Free: 0.226 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.24916
516
3.1 %
RANDOM
Rwork
0.20432
-
-
-
obs
0.20567
15978
100 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK