ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB XSCALEデータスケーリング Show PHASER位相決定 Show REFMAC精密化 Show PDB_EXTRACT3.004 データ抽出 Show XDSデータスケーリング XDSデータ削減
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 2.8→19.06 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.944 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.914 / SU B : 28.854 / SU ML : 0.254 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / Isotropic thermal model : Isotropic / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.567 / ESU R Free : 0.302 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.239 1086 5.1 % RANDOM Rwork 0.207 - - - obs 0.209 21157 99.81 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 94.261 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.23 Å2 -0.11 Å2 0 Å2 2- - -0.23 Å2 0 Å2 3- - - 0.34 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.8→19.06 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2496 1429 2 4 3931
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 17) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.007 0.022 4140 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.328 2.424 5853 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg8.556 5 307 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg38.065 24.314 102 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg24.805 15 569 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg17.41 15 16 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.093 0.2 683 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.011 0.02 2471 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.295 0.2 1997 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.338 0.2 2717 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.243 0.2 139 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.341 0.2 37 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.034 0.2 1 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.117 1.5 1569 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.689 2 2488 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.159 3 3355 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.388 4.5 3365
Refine LS restraints NCS Dom-ID : 1 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
Ens-ID Auth asym-ID 数 タイプ Rms dev position (Å)Weight position 1 A631 TIGHT POSITIONAL0.1 0.05 1 A631 TIGHT THERMAL0.09 0.5 2 B612 TIGHT POSITIONAL0.07 0.05 2 B612 TIGHT THERMAL0.09 0.5 3 E407 TIGHT POSITIONAL0.05 0.05 3 E407 TIGHT THERMAL0.17 0.5
LS精密化 シェル 解像度 : 2.8→2.871 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.397 80 - Rwork 0.365 1451 - all - 1531 - obs - - 100 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 6) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 9.9884 -1.2002 -4.6388 3.9005 1.7293 8.6104 -0.4424 -0.0439 0.2709 -0.3556 0.4805 -1.0489 -0.0652 0.3086 -0.0381 -0.7747 0.1359 0.0063 -0.3736 -0.1625 -0.6013 88.2 -23.08 -17.35 2 14.1563 1.5203 -3.1516 6.4467 0.2044 6.6921 -0.0758 -0.4616 0.0824 0.423 0.5113 0.7498 0.2764 -0.1314 -0.4355 -0.8282 0.1164 -0.0025 -0.5098 0.0106 -0.7326 70.11 -23.24 -6.65 3 13.3995 -1.9818 -2.8352 7.0366 -0.4187 7.6958 -0.0433 0.4648 0.0481 -0.3761 0.4001 -0.7862 0.2168 0.1313 -0.3568 -0.8544 -0.1148 0.0059 -0.572 -0.0037 -0.7436 34.48 -23.17 -15.85 4 8.9379 1.4168 -3.9758 4.2048 -1.5738 7.83 -0.3411 0.1028 0.1903 0.3924 0.4542 0.9762 -0.1293 -0.2138 -0.1131 -0.7818 -0.1021 0.0095 -0.4142 0.146 -0.6195 16.31 -23.12 -5.24 5 19.5205 -0.8443 -6.7336 0.9151 0.5073 2.8939 -0.0226 0.1818 -1.0592 0.0427 0.1205 0.0286 0.3429 -0.1536 -0.0979 -0.5913 -0.0089 -0.1301 -0.4744 0.0163 -0.6174 52.28 -27.19 -10.95 6 18.6908 1.1349 -6.0465 1.1808 -0.6332 2.446 -0.0076 -0.1834 -1.1598 -0.044 0.0673 -0.0412 0.3074 0.228 -0.0597 -0.6411 0.0341 -0.1705 -0.4333 -0.0122 -0.6494 52.24 -27.18 -11.64
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA2 - 77 5 - 80 2 X-RAY DIFFRACTION 2 BB2 - 77 5 - 80 3 X-RAY DIFFRACTION 3 CC2 - 77 5 - 80 4 X-RAY DIFFRACTION 4 DD2 - 77 5 - 80 5 X-RAY DIFFRACTION 5 EE1 - 35 1 - 35 6 X-RAY DIFFRACTION 6 FF1 - 35 1 - 35