モノクロメーター: Horizontal focusing 5.05 asymmetric cut Si(111) プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9771 Å / 相対比: 1
Reflection
冗長度: 4.3 % / Av σ(I) over netI: 12.3 / 数: 171005 / Rmerge(I) obs: 0.066 / Χ2: 1.01 / D res high: 2.39 Å / D res low: 50 Å / Num. obs: 40110 / % possible obs: 98.9
Diffraction reflection shell
最高解像度 (Å)
最低解像度 (Å)
% possible obs (%)
ID
Rmerge(I) obs
Chi squared
Redundancy
5.15
50
99.5
1
0.039
1.036
4.4
4.09
5.15
100
1
0.052
1.018
4.4
3.57
4.09
95.3
1
0.071
1.048
3.7
3.24
3.57
100
1
0.088
1.054
4.5
3.01
3.24
100
1
0.108
1.054
4.6
2.83
3.01
100
1
0.153
1.068
4.6
2.69
2.83
100
1
0.227
1.043
4.6
2.57
2.69
100
1
0.315
0.975
4.6
2.48
2.57
99.9
1
0.45
0.883
4.1
2.39
2.48
94.5
1
0.459
0.871
3
反射
解像度: 2.39→50 Å / Num. obs: 40110 / % possible obs: 98.9 % / 冗長度: 4.3 % / Biso Wilson estimate: 45.2 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.066 / Rsym value: 0.049 / Χ2: 1.012 / Net I/σ(I): 12.3