プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97884 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.08→40 Å / Num. obs: 173965 / % possible obs: 96.2 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 9 % / Biso Wilson estimate: 12.4 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.06 / Net I/σ(I): 17.3
反射 シェル
解像度: 1.08→1.14 Å / 冗長度: 5.8 % / Rmerge(I) obs: 0.39 / Mean I/σ(I) obs: 3.8 / % possible all: 82.9
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.5.0102
精密化
iMOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
ACORN
位相決定
精密化
構造決定の手法: DIRECT METHODS 開始モデル: NONE 解像度: 1.08→62.73 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.977 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.971 / SU B: 0.63 / SU ML: 0.014 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.025 / ESU R Free: 0.025 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.15132
8709
5 %
RANDOM
Rwork
0.13312
-
-
-
obs
0.13403
165083
95.9 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK